FluxDancer E900半导体参数分析仪
更新时间:2026-03-27
FluxDancer E900半导体参数分析仪是由Oriental Spectra精心打造的高精度测试设备,专为测量和分析半导体器件的电学特性而设计。这款仪器融合了众多前沿测量技术,包括电源、电压表、电流表、LCR表和开关矩阵等,使其能够执行电流-电压(IV)和电容-电压(CV)测量,以及快速脉冲IV测量等多种测试。
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| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,电子/电池,航空航天,电气,综合 |
FluxDancer E900半导体参数分析仪介绍:
FluxDancer半导体参数分析仪是由Oriental Spectra精心打造的高精度测试设备,专为测量和分析半导体器件的电学特性而设计。这款仪器融合了众多前沿测量技术,包括电源、电压表、电流表、LCR表和开关矩阵等,使其能够执行电流-电压(IV)和电容-电压(CV)测量,以及快速脉冲IV测量等多种测试。
FluxDancer的之处在于其对测试精度和分辨率的追求。它不仅能够提供精确的IV和CV表征,而且广泛应用于半导体研发、工艺制程开发、器件可靠性测试和光电器件测试等领域。与传统的多仪器组合相比,FluxDancer的集成设计确保了更高的测量精度和分辨率。
主要规格参数:
□ 电流-电压(IV)、电容-电压(CV)、脉冲IV测试等全面功能;
□ 电流测量分辨率zui高0.1 fA,测试精度30 fA;
□ IV-t测试模式,zui快采样率不低于65 us/点;
□ 支持脉冲模式下的最短脉冲宽度为10 ns;
□ 测试功能:IV、IV-t、PIV (脉冲IV)、Super-PIV (10 ns sampling)CV、阻抗、1/f (100 KHz)、Super-1/f (1 MHz)、Solar cell、FET、BJT、EL等 。
□ 高精度和高分辨率的测量能力;
□ 快速测量和分析,支持多种测量模式;
□ 模块化设计,易于升级和扩展:配置>10个插槽,支持zui大吸收电流至4A;
□ 适用器件、材料,有源/无源元器件等类型的电子器件;
□ 直观的用户界面,简化操作流程;
□ 支持自动化测试和数据分析。
Ⅰ-Ⅴ 源测量单元 (SMU)
大功率 SMU:
电压范围: ±100 V-200V
直流电流范围: ±1A
脉冲电流范围: ±2A±3A
最小电流分辨率: 0.1fA
最小电压分辨率: 100nV
电流测量量程: 10fA
电压测量量程分辨率: 0.5uV
直流功率: 20W 或者 40W 可选
zui大脉冲功率: 480W (zui大电压 160V, zui大电流 3A)
脉冲极限最小宽度: 50 us, 可输出 50us 脉冲测试
支持四象限测试
支持 2 线或 4 线测试
支持 IV-T 测试模式,zui快采样率 550ns 每点,数据存储点可以设置为 10K, 1M, 10M 或 100M
中等功率直流 SMU:
电压范围: ±40-±50 V
电流范围: ±1.5A
最小电流分辨率: 400 pA
最小电压分辨率: 4uV
电流测量分辨率: 10fA
电压测量分辨率: 0.5uV
支持四象限测试
支持 2 线或 4 线测试
小功率直流 SMU:
电压范围: ±14 V
电流范围: ±40 mA
最小电流分辨率: 200 nA
最小电压分辨率: 60 uV
电流测量分辨率: 10fA
电压测量分辨率: 0.5uV
支持四象限测试
支持 2 线或 4 线测试
支持源表数量:1-5 可选
前置放大:可配置前置放大,SMU 电流测量分辨率提高至 0.1fA
C-V 多频电容单元 (CVU)
AC 阻抗测量是 CV, C-f, C-t
1 kHz- 10 MHz 宽范围,最小频率分辨率 1mHz
电容测试精度 (介电损耗 D): @1MHz±0.3%, 10pF@1MHz±0.15%, 10pF@100kHz±0.2%
±30 V (60Vpp), 内建 DC 偏置范围可以扩展到 ±210V (420V 差分)
具有 CV, CV 自动测试测量功能
支持 CV, C-t 电容测量扫描方
脉冲式 I-V 超快脉冲测量单元 (PMU)
两个独立的高速脉冲 IV 源和测量通道
200 MSa/s, 5 ns 样点间隔
±40 V(80V p-p), ±800 mA
瞬态波形捕获模式
任意波形发生器,10 ns 可编程分辨
高压脉冲发生器单元 (PGU)
两个高速脉冲电压源通道
±40 V(80V p-p), ±800 mA
任意波形发生器,10 ns 可编程分辨率
Ⅰ-Ⅴ/C-V 多通道开关模块 (CVIV)
在 IV 源和 CV 之间切换,无需抬起探针
任意资源 CV 测量,无需抬起探针
支持 ±210 V DC 偏置
1n 噪声测试模块 (FNU)
速度 8~10s/bias
带宽 1Hz~100kHz
噪声基底: <120uA@2Hz
全带宽下的测量偏差 2%


