SA8000半导体参数分析仪介绍：

半导体器件参数分析仪是一种用于测试半导体器件电学性能的工艺试验仪器。它支持电流-电压（IV）、电容-电压（CV）、脉冲/动态IV等多种特性表征，是半导体研发、制造和质量控制的关键设备。该类仪器通常采用模块化设计，用户可根据测试需求灵活配置功能模块，并配备专用软件和触摸屏界面以简化操作流程。其高精度测量能力（如f安级电流、µV级电压分辨率）适用于从基础器件到工艺的广泛表征需求，在半导体、消费电子、汽车电子等多个领域均有应用

凭借自主可控的架构创新，打开了国产设备的规模化应用空间。该产品基于全自主知识产权的 PXIe 架构设计，最多支持 18 个模块同时工作，可灵活组合直流 IV、CV、快速脉冲测量单元，通过高速总线与统一同步触发管理，实现多模块的精准协同测试，无需在多台仪器间反复切换，大幅提升测试效率与数据一致性。其核心测量能力达到 0.1fA 的电流分辨率，可稳定捕捉忆阻器、量子点等器件的超微弱信号；同时搭载无需编程的 Quick Test 模式，支持 Python 自定义器件测试算法，兼顾了易用性与灵活性，目前已进入复旦大学、清华大学等国内高校的采购清单，在二维材料、神经形态计算等前沿研究领域实现了落地应用。

核心性能参数

电流测量能力：0.1 fA（10⁻¹⁶ A）超高电流分辨率，可稳定捕捉忆阻器、量子点等器件的超微弱信号

硬件架构：基于 PXIe 架构，最多支持 18 个模块同时工作，配备高速总线通讯 + 统一同步触发管理，无需多台仪器切换

测试覆盖：可灵活组合直流 IV、CV、快速脉冲测量单元，适配多种 PXIe 仪表

软件能力：

无需编程的 Quick Test 模式（经典测试 / 应用测试 / 序列测试三种模式）

支持 Python 编程自定义器件测试算法，开放二次开发

产品优势  
微弱电流探测
依托在源表领域持续多年的技术积累，SA8000实现了 0.1 fA（10-16 A）的电流测量分辨率，能稳定捕捉忆阻器、量子点等器件的超微弱信号，为前沿探索提供可靠的微弱信号测量能力。

全集成多维度测试能力
系统基于PXIe架构支持最多18个模块同时工作，可灵活组合直流IV、CV及快速脉冲测量单元。通过高速总线通讯及统一的同步触发管理，可以适配多种PXIe仪表。无需在多台仪器间反复切换，显著提升测试效率与数据一致性。

无需编程的Quick Test模式
经典测试模式：支持灵活多样的参数配置，满足多种测试场景需求；应用测试模式：可选用预置的多种器件算法，快速测试器件的特性曲线或关键参数；序列测试模式：支持自动顺序执行由多个经典测试或应用测试编辑的测试序列；

自定义器件测试算法应用测试模式中的器件算法使用python 编程，开放供客户自定义器件测试算法。用户可根据自身研究需求，自定义器件的测试过程以及参数提取算法，极大提升测试灵活性与算法可复现性。

主要可选模块如下：

典型应用

SA8000 广泛应用于各类半导体器件的研发与测试场景，涵盖传统器件与前沿研究领域：

典型的前沿领域应用：

1.忆阻器与神经形态计算研究内置波形产生与快速测量单元，最小脉宽200ns，可实时记录阻变过程，为类脑计算芯片提供高保真原始数据。
2.二维材料与量子器件研究得益于 0.1fA 的超低电流分率测量能力，SA8000 可精准表征二维材料（如石墨烯、MoS₂）的微弱电导变化，支持量子点等新型器件的工作机制研究。