TH521半导体参数分析仪是一款用于电路设计的综合解决方案，可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件，让其电力电子产品发挥*大价值。它可以评测器件在不同工作条件下的所有相关参数，包括IV参数（击穿电压和导通电阻）、三端FET电容、栅极电荷和功率损耗。用于电路设计的TH521系列半导体参数分析仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。

FluxDancer E900半导体参数分析仪是由Oriental Spectra精心打造的高精度测试设备，专为测量和分析半导体器件的电学特性而设计。这款仪器融合了众多前沿测量技术，包括电源、电压表、电流表、LCR表和开关矩阵等，使其能够执行电流-电压（IV）和电容-电压（CV）测量，以及快速脉冲IV测量等多种测试。

FS-Pro半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压 (IV)测试、电容电压 (CV) 测试、脉冲式 IV 测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。

SA8000半导体参数分析仪这是一款基于全自主知识产权架构，集亚飞安级电流分辨率、模块化灵活扩展于一身的测试平台，旨在为全球半导体研发工程师提供精准与高效的测量方案。半导体器件参数分析仪是一种用于测试半导体器件电学性能的工艺试验仪器。它支持电流-电压（IV）、电容-电压（CV）、脉冲/动态IV等多种特性表征，是半导体研发、制造和质量控制的关键设备。该类仪器通常采用模块化设计，用户可根据测试需求灵活

微泰VT321半导体参数分析仪支持SMU、LCR、PGU、PMU等PXIe标准模块，满足复杂测试需求。配备15.6英寸高清屏，预装Windows 10及VTNext软件，提供I-V、C-V、脉冲I-V测试功能，内置MOSFET、BJT、二极管、电阻及电容等丰富的器件类型库，为现代半导体、材料和工艺表征提供高级测试定义、参数分析、图表绘制和自动化功能。

泰克Keithley 4200A-SCS 半导体参数分析仪全面集成的参数分析仪，可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) 和超快速脉冲式I-V 特性。作为高性能的参数分析仪， 4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。基于GUI 的软件提供了清楚的、不折不 扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时 可以投入使用的应用测试，Clarius Software 可以更